Time of Flight Secondary Ion Mass Spectroscopy (TOF-SIMS)

Durch ToF-SIMS Analysen (Sekundärionenmassenspektrometrie) kann die atomare und molekulare Zusammensetzung in den obersten 1-3 Monolagen eines Festkörpers empfindlich erfasst werden. 
Das bevorzugte Einsatzgebiet dieses analytischen Verfahrens sind empfindliche Element- und Molekülnachweise.

Funktionsprinzip: 
Ionenbeschuss der Oberfläche führt zu Ionendesorption aus der obersten Monolage des untersuchten Festkörpers; anschließend Massenbestimmung der desorbierten Ionen.

Nachweis von

  • Elementen: ja (alle)
  • Isotopen: ja und
  • Molekülen bzw. Molekülfragmenten

Mögliche Einsatzgebiete:

  • Forschung & Entwicklung
  • Problemanalysen beim Versagen von Klebverbindungen und Vorbehandlungen
  • Verfolgung von chemischen Veränderungen auf Oberflächen
  • Charakterisierung der Oberflächensauberkeit von Materialien
  • Oberflächenanalytik auf polymeren Materialien
  • Untersuchung von Biomaterialien (Sauberkeit, Funktionalisierung)
  • Bestimmung von Isotopenverhältnissen

TOF-SIMS-Spektrum